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半导体静态参数测试 HUSTEC华科智源HUSTEC-1600A-MT半导体静态参数测试一:半导体静态参数测试主要特点华科智源HUSTEC-1600A-MT静态测试仪可用于多种封装形式的 IGBT测试,还可以测量大功率二极管 、IGBT模块,大功
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2024-08-14 |
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SiC器件测试仪/设备/厂家 华科智源hustec-1600a-mt静态参数测试仪可用于多种封装形式的 igbt测试,还可以测量大功率二极管 、igbt模块,大功率 igbt、大功率双极型晶体管,mos管等器件的 v-i 特性测试,测试1200a可扩展
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2024-03-19 |
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mos管测试仪/设备/厂家 华科智源hustec-1600a-mt静态参数测试仪可用于多种封装形式的 igbt测试,还可以测量大功率二极管 、igbt模块,大功率 igbt、大功率双极型晶体管,mos管等器件的 v-i 特性测试,测试1200a可扩展
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2024-03-19 |
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二极管测试仪/设备/厂家 华科智源hustec-1600a-mt静态参数测试仪可用于多种封装形式的 igbt测试,还可以测量大功率二极管 、igbt模块,大功率 igbt、大功率双极型晶体管,mos管等器件的 v-i 特性测试,测试1200a可扩展
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2024-03-19 |
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功率器件静态参数测试仪/设备 华科智源hustec-1600a-mt静态参数测试仪可用于多种封装形式的 igbt测试,还可以测量大功率二极管 、igbt模块,大功率 igbt、大功率双极型晶体管,mos管等器件的 v-i 特性测试,测试1200a可扩展
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2024-03-19 |
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晶体管图示仪 产品介绍产品为桌面放置的台式机结构,由测试主机和程控电脑两大部分组成。各类夹具和适配器,还能够通过 prober 接口、handler 接口可选16bin连接分选机和机械手建立工作站,实现快速批量化测
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2024-03-01 |
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10us方波浪涌测试仪 华科智源-二极管浪涌电流是指电源线接通瞬间或是在电路出现异常情况下产生的远大于稳态电流的峰值电流或过载电流。半导体器件在工作时,有时要承受较大的冲击电流,器件的用途不同,要求器件能
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2024-03-01 |
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cv曲线测试仪 可测参数:ciss/coss/crss/rg mos管结电容测试测试频率:1mhz信号电压范围:1mv~1000mv测试精度:0.01pf华科智源栅极电阻/栅极电容测试仪特点:2,可点测和扫描曲线。4,可随时保存数据和波形,
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2024-03-01 |